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韓國半導體廠商研發(fā) ALD 新技術,降低 EUV 工藝步驟需求

發(fā)布時間:2024-07-16 09:19:34來源:IT之家

  IT之家 7 月 16 日消息,韓媒 The Elec 報道,韓國半導體公司周星工程(Jusung Engineering)最新研發(fā)出原子層沉積(ALD)技術,可以在生產(chǎn)先進工藝芯片中降低極紫外光刻(EUV)工藝步驟需求。

  

 

  IT之家注:極紫外光刻(EUV)又稱作超紫外線平版印刷術,是一種使用極紫外光波長的光刻技術,目前用于 7 納米以下的先進制程,于 2020 年得到廣泛應用。

  周星工程董事長 Chul Joo Hwang 表示當前 DRAM 和邏輯芯片的擴展已達到極限,因此需要像 NAND 一樣,通過堆疊晶體管的方式克服這個問題。

  半導體行業(yè)如果想要把晶體管微縮到更小尺寸,一種方案就是堆疊晶體管,其中一個佐證是深紫外線(DUV)設備有望用于生產(chǎn) 3D DRAM。

  Hwang 說,隨著堆疊變得越來越重要,ALD 機器的需求也將增加。III-V 和 IGZO 半導體的生產(chǎn)也需要 ALD 設備。

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